求購二手日本光子晶體相位差WPA-200L應力儀
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更新時間：2025-07-25 信息編號：db3gn497g4e8e0

￥50000

≥ 1臺

價格：
50000.00 元
產地：
日本
結構類型：
板式換熱器
關鍵詞：
日本光子晶體,二手WPA-200L,相位差測試儀,日本光子晶體相位差

黃志鵬

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求購二手日本光子晶體相位差WPA-200L應力儀

產品別名	二手WPA-200L,相位差測試儀,軸方向檢測儀,日本光子晶體相位差	面向地區	廣東深圳	產地	日本
結構類型	板式換熱器	規格	其它	材質	玻璃
傳熱方式	間壁式換熱器	電壓	220v	高度	230cm
結構型式	凸透鏡	型號	H1	裝置方式	立式

WPA-200L雙折射薄膜應力檢測儀是一款由日本 Photonic Lattice 公司以光子晶體制造技術開發的光學測量產品。以下是它的一些主要特點、技術參數和應用領域：
主要特點：
操作簡單、測量快速：測量速度可以快至 3 秒，能夠快速獲取測量結果，提高檢測效率。
視野范圍廣、一次測量：采用 CCD camera，可對視野范圍內的樣品一次測量，全面掌握應力分布情況，減少測量的誤差和不確定性。
數據直觀：測量數據以二維分布圖像呈現，能夠更直觀地讀取數據，方便用戶進行分析和判斷。
分析功能多：具有多種分析功能和測量結果的比較功能，幫助用戶更好地理解和評估樣品的雙折射和應力情況。
維護簡單：不含旋轉光學濾片的機構，降低了儀器的維護成本和復雜度。
技術參數：
輸出項目：可輸出相位差（單位：nm）、軸方向（單位：°），并且選配功能可實現相位差與應力換算（單位：MPa）。
測量波長：有 520nm、543nm、575nm 等多個測量波長可供選擇。
雙折射測量范圍：0 - 3500nm，適用于多種材料的雙折射測量。
測量小分辨率：0.001nm，具有較高的測量精度。
測量重復精度：小于 1nm（西格瑪），了測量結果的可靠性和穩定性。
視野尺寸：標準視野尺寸為 218x290mm - 360×480mm，不同的選配鏡頭可能會有不同的視野范圍。
應用領域：
光學材料研究：可用于評估各類光學薄膜（如反射膜、增透膜等）的性能，以及分析新型光學晶體的雙折射特性，為光學材料的研發和生產提供重要的參數支持。
顯示技術：在液晶顯示器（LCD）面板和有機發光二極管（OLED）的生產中，可檢測面板中的相位差分布，幫助研發和優化光學層，提高顯示質量。
塑料制品行業：能夠測量透明塑料制品中的應力分布，評估產品質量，為改進塑料加工工藝提供依據，減少雙折射現象對產品性能的影響。
半導體制造：可用于檢測硅片等半導體材料的雙折射，確保半導體材料符合制造要求，提高半導體器件的性能和可靠性。
科研領域：在物理學研究中，可用于探究光與物質相互作用時的雙折射現象；在生物醫學研究中，可提供細胞和組織的光學特性分析，為相關研究提供有力的工具。

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