高低溫沖擊箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業的測試設備， 用于測試材料結構或復合材料，
在瞬間下經溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度，得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區別在于試驗方式和內部結構不同，產品符合標準為：GB/T2423.1-2008試驗A 、GB/T2423.2-2008試驗B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。
全部功能采用計算機控制，系自主開發的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態下，可以臨時更改此程序段的數值，可以在屏幕上設置時間的參數，使制冷、加熱、提藍傳送切換，按設定值自動進行。
冷箱、熱箱立控制，箱門互相立，擴大試驗箱的使用范圍（一箱三用）。

產品保溫效果可以得到充分。
試驗箱門與循環風機，提籃傳動等互鎖，保護操作者的安全，一旦打開箱門，循環風機和提藍傳動的電源會被自動切斷。在箱頂有標準引線孔管，方便用戶向箱內引入傳感器線，檢測電纜等類型引線。

主控制器采用進口日本“OYO”雙回路液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏，可顯示設定參數、試驗曲線、運行時間、加熱器工作狀態，PID參數自整定功能?？刂瞥绦虻木幹撇捎萌藱C對話方式，僅需設定溫度，就可實現制冷機自動運行功能?？刂葡到y具備完善的檢測裝置能自動進行詳細的故障顯示。報警，配置485通訊接口及運行軟件。設定精度：溫度：0.1℃ 時間：Is用戶程序容量：10×99段。運行方式：程序運行，恒定運行。立超溫保護儀表。設備工作時間累計計時器。低溫區、高溫區轉換時間小于等于15秒。 溫度恢復時間小于等于5分鐘。

高低溫沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質，從精密的IC到重機械的組件，都會用到，是各領域對產品測試的的一項測試箱。WDCJ-100

箱體左側具一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負載配線測試部件。可立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫試驗機的功能。

具備全自動，高精密系統回路、任一機件動作，完全有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高.科學的空氣流通循環設計，使室內溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護裝置，避免了任何可能發生安全隱患，設備的長期可靠性

可設定循環次數及除霜次數自動（手動）除霜.出風口于回風口感知器檢測控制，風門機構切換時間為10秒內完成，貝爾品牌冷熱沖擊溫度恢復時間為5分鐘內完成。運轉中狀態顯示及曲線顯示,發生異常狀況時,螢幕上即刻自動顯示故障點及原因和提供排除故障的方法,并于發現輸入電力不穩定時,具有緊急停機裝置。

保養方法
a.冷熱沖擊試驗機冷凍機組之散熱器(冷凝器) 應定期保養, 保持清潔。灰塵粘糊冷凝器會使壓縮機高壓開關跳脫而產生誤報警，冷凝器應定期每月保養,利用真空吸塵器將冷凝器散熱網片上附著之其塵吸除或開機后使用質硬的毛刷刷之或用高壓氣嘴吹干凈灰塵。
b.開關門或從爐內取測試物時，不得讓物品與門上膠邊接觸，以防膠邊被破壞和縮短壽命.
c.機身周圍和底部的地面要隨時保持清潔，以免大量灰塵吸入機組內產生意外事故和降低性能.
d.冷熱沖擊試驗機冷凍系統是本機的核心，請半年巡檢一次所有銅管有無泄漏雪種情況，各嗽叭接頭、焊接口，如有油漬外泄，請通知本公司或直接處理之.
e.配電盤之大電流接點，配電室內每年至少清潔檢修一次以上，接點的松動會使整個設備處于危險工作狀態，輕則燒壞組件，重則發生火災、報警、人身傷害非常危險. 清潔時清利用吸塵器將室內灰塵吸除即可。
f.冷熱沖擊試驗機配電箱內的兩個超溫保護器設定值請不要隨便調試，出廠時已調好，此保護開關是保護加熱管空焚和警報之用. 設=溫度設20℃～30℃ 。
h.冷熱沖擊試驗機當試驗產品時間到達后取產品時，在關機狀態下且工作人員一定要戴好干燥、防電、耐溫手套進行取放產品.
i.冷熱沖擊試驗機箱體內外部的清潔與保養。
j.冷熱沖擊試驗機在操作前應先將內部雜質(物) 清除。
k.配電室內每年至少清潔一次以上, 清潔時請利用吸塵器將室內灰塵吸除即可。箱體外部每年清洗一次以上, 清洗時用肥皂水擦拭即可。
用于測試零部件承受溫度迅速變化之耐力，三箱式冷熱沖擊試驗箱即適用于質量控制的實驗室又可滿足生產過程中篩選商用和產品。蓄熱式冷熱沖擊箱不需要使用液態氣體（LN2　或 LCO2）輔助降溫，待測物完全靜止測試方式是當前電子部品測試、研究、以及半導體生產線大量選用，可大量節省耗材測試費用，操作快捷。