關鍵詞 |
高壓加速老化試驗箱 |
面向地區 |
全國 |
PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
PCT老化箱采用新優化設計,美觀大方，做工精細。
采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。
采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩定特點（依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數據下載功能，和通訊功能）。
PCT老化箱內膽采用圓弧設計,復合容器標準,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
配備雙層不銹鋼產品架,也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定制產品架。
