臺式x射線測厚儀可測量：單一鍍層：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和飾加工行業；銀行、飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
快速、的分析：
大面積正比計數探測器和50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強度大、斑點小，樣品激發佳）相結合，提供靈敏度
簡單的元素區分：
通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
性能優化，可分析的元素范圍大：
預置800多種容易選擇的應用參數/方法
的長期穩定性：
自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩定的測試結果
例行進行簡單快速的波譜校準，可自動檢查儀器性能（例如靈敏性）并進行必要的修正
堅固耐用的設計
可在實驗室或生產線上操作
堅固的工業設計

X熒光測厚儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，它也可以進行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數十秒；即可分析出各金屬鍍層的厚度，分析測量動態范圍寬，可從0.01M到60M。它是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。當鍍層樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發后會發射出各自的特征X射線，探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉變為模擬電信號；經過模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進行處理；計算機的應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
我公司集中了國內的X熒光分析﹑電子技術等行業技術研究開發及生產技術人員，依靠多年的科學研究，總結多年的現場應用實踐經驗，結合中國的特色，開發生產出的X熒光測厚儀具有快速、準確、簡便、實用等優點。
我公司研制的X熒光測厚儀，廣泛用于用于鍍層厚度的測量、電鍍液厚度的測量。
1. 儀器特點：
? 同時分析元素周期表中由鈦（Ti）以上元素的鍍層厚度；
? 可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度；
? 無需復雜的樣品預處理過程；分析測量動態范圍寬，可從0.01M到60M ；
? 采用的探測器技術及的信號處理線路，處理速度快，精度高，穩定可靠；
? 采用正高壓激發的微聚焦的X光管，激發與測試條件采用計算機軟件數碼控制與顯示；
? 采用彩色攝像頭，準確觀察樣品并可拍照保存樣品圖像；
? 采用電動控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的移動，準確方便；
? 采用雙激光對焦系統，準確定位測量位置；
? 度高，穩定性好，故障率低；
? 采用多層屏蔽保護，輻射性可靠；
? WINDOWS XP 中文應用軟件，特的分析方法，完備強大的功能，操作簡單，使用方便, 分析結果存入標準ACCESS數據庫；
2、儀器的技術特性
2.1 X-Y-Z樣品平臺移動裝置
X熒光測厚儀的X-Y-Z樣品平臺移動裝置具有可容納各種形態被測樣品的樣品室。
樣品種類：各種形狀的鍍層樣品，及電鍍液體樣品。
平臺移動：X-Y-Z移動采用電動方式，實用方便。

隨著工業、能源以及交通等需求的不斷增長，環境污染問題日益。天瑞儀器作為國內化學分析行業的，將化學分析與環境監測檢測相結合，用科學技術助力環境保護。目前，天瑞儀器的各類環保產品已廣泛應用于工廠、工業園區、監測站、等不同領域，對環境檢測檢測提供了有力的數據支撐。而天瑞，也一直朝著“讓地球重現藍天碧水環境、讓人類永享田園牧歌生活”的美好愿景努力著。Cube 100在測量金、銀、鉑等貴金屬以及首飾內壁含量上功能到。采用高分辨率SDD或者Sipin探測器，可準確無誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳等元素的含量，同時還可以測試鎘和鉛等有害物質。測試結果完全符合國標GB/T 18043-2013要求。
該產品設計精巧、輕便，凈重不超過5kg，設備自帶把手，方便提攜；萬向測試支架，方便測試小部件樣品和混合金屬飾品等；內置攝像頭，可為待測樣品提供準確圖片，并保存到測試報告中； 儀器配置Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm三組準直器組合，結合樣品腔，可應對測試不同大小樣品的需要；FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作。