PCT試驗箱使用說明
1.使用PCT老化試驗箱前請詳讀操作保養手冊。
2.建議使用蒸餾水或R.O.水以保護鍋體使用安全。
3.使用PCT前請確認關閉手動排氣閥門。
4.工作完成后如壓力指示器未回到0kg/cm2。開門前請打開手動排氣閥排除內鍋剩余壓力，直到內鍋壓力回到0kg/cm2。
5.工作完成后將測試物品留置在鍋內時間過長，將可能發生鍋門無法開啟的現象，那是因為冷熱空氣收縮造成的壓差所導致，處理方式很簡單，只要打開手動排氣閥排除內鍋氣體，鍋門就可打開。

PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

PCT老化箱采用新優化設計,美觀大方，做工精細。
采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。
采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩定特點（依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數據下載功能，和通訊功能）。

安全保護裝置
A、誤操作安全裝置：高壓加速老化試驗箱鍋門若未關緊則機器無法啟動.
B、超壓安全保護：當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓.
C、超溫保護：當鍋內溫度過高時機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源.
D、防燙傷保護：特制材質制成可防止操作人員接觸燙傷.
E、手動安全保護排壓伐.

PCT試驗箱對半導體的PCT測試：PCT主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
產品特點
1. 采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度。
2. 采用指針顯示正負壓表；時間控制器采 LED 顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。
3. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準, 可防止試驗中結露滴水設計.。
4. 圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.。
5. 精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 200h。
6. 自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,專利安全門把設計,箱內有大于常壓時測試門會被反壓保護。
7. 內壓力愈大時,專利packing,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命。
8. 臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。
9. 安全閥，當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。
10. 一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現不同環境下存在的破壞性光波，可以為科研、產品開發和質量控制提供相應的環境模擬和加速試驗。

是航空、汽車、家電、科研等領域的測試設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫或恒定試驗的溫度環境變化后的參數及性能。

佳放置條件
一、溫度：5～40℃；
二、相對濕度：不大于85%；
三、氣壓：86～106kPa；
四、電源：交流電壓220±22V或380±38V 頻率50±0.5Hz；
五、周圍無強烈振動，無強磁場影響，無腐蝕性氣體；
六、無陽光直接照射或其他冷、熱源直接輻射；
八、周圍無強烈氣流，當周圍空氣需要強制對流時，氣流不應直接吹到箱體上。

老化試驗箱有大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。
箱體保溫采用超細玻璃纖維保溫棉，可避免不必要的能量損失。箱體左側配一直50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。換氣的時間和次數可任意設置。
試驗架二層，可以自由調節高度