在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當(dāng)安全快門打開，X射線將從X射線源和探頭之間的被測(cè)鋼板中通過(guò)，被測(cè)鋼板將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉(zhuǎn)換為與之大小相關(guān)的輸出電壓。如果改變被測(cè)鋼板的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化，檢測(cè)信號(hào)也隨之發(fā)生相應(yīng)的變化。

X熒光鍍層測(cè)厚儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

X射線鍍層測(cè)厚儀廣泛應(yīng)用于鍍銀、鍍鎳、鍍金、鍍鋅等，廣泛應(yīng)用于電子電器、高壓開關(guān)、電網(wǎng)鍍銀產(chǎn)品、汽車配件
五金工具、PCB板、半導(dǎo)體封裝、電子連接器等，天瑞儀器售后服務(wù)方便，維護(hù)成本低。

X射線鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域；
技術(shù)指標(biāo)
多鍍層分析，1～5層；
測(cè)試精度：0.001 μm；
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；
測(cè)量時(shí)間：10~30秒；
SDD探測(cè)器，能量分辨率為125±5eV；
探測(cè)器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

x射線熒光鍍層測(cè)厚儀可以檢測(cè)鍍金層、鍍鎳層、鍍鋅層、鍍鉻層、鍍銀層、鍍銅層、鍍錫層的厚度。檢測(cè)速度快隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速突破，x射線熒光鍍層測(cè)厚儀也同時(shí)向著微型、智能、多功能、、實(shí)用化的方向發(fā)展。x射線測(cè)厚儀的測(cè)量分辨率已達(dá)到納米級(jí)，精度更是有了大幅度的提高，且具有適用范圍廣泛，量程寬、操作簡(jiǎn)便且界面友好等特點(diǎn).