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微電腦高低溫老化試驗(yàn)箱內(nèi)箱尺寸
型號: HL-306 內(nèi)形尺寸:H×W×D 85×60×60cm
型號: HL -408 內(nèi)形尺寸:H×W×D 85×60×80cm
型號: HL -1000 內(nèi)形尺寸:H×W×D 100×100×100cm
微電腦高低溫老化試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)
1、溫度范圍：（0℃、-20℃、-40℃、-70℃）～+150℃
2、濕度范圍：30～98%RH
3、溫度均勻度≤±2.0℃
4、溫度波動(dòng)度≤±0.5℃
5、濕度波動(dòng):+2-3％RH
6、降溫速率：0.7℃～1℃（空載狀態(tài)下）
7、升溫速率：1～3℃（空載狀態(tài)下）
微電腦高低溫老化試驗(yàn)箱制冷配置
1、制冷壓縮機(jī)：原裝法國“泰康”全封閉活塞式低溫壓縮機(jī)
2、蒸發(fā)器：國內(nèi)品牌
3、冷凝器：國內(nèi)品牌
4、節(jié)流裝置： “丹麥”丹佛思熱力膨脹閥、毛細(xì)管
5、冷媒：環(huán)保型R404、F23、R14
6、電磁閥：進(jìn)口“意大利”電磁閥
微電腦高低溫老化試驗(yàn)箱設(shè)備執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
GB10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2006微電腦高低溫老化試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.3-1993 試驗(yàn)Ca: 恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
微電腦高低溫老化試驗(yàn)箱設(shè)備用途：
微電腦高低溫老化試驗(yàn)箱主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫、低溫、濕熱、條件下對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
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