PCT試驗箱對半導體的PCT測試：PCT主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
產品特點
1. 采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度。
2. 采用指針顯示正負壓表；時間控制器采 LED 顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。
3. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準, 可防止試驗中結露滴水設計.。
4. 圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.。
5. 精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 200h。
6. 自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,專利安全門把設計,箱內有大于常壓時測試門會被反壓保護。
7. 內壓力愈大時,專利packing,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命。
8. 臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。
9. 安全閥，當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。
10. 一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

通過考核對材料及其防護層的鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護層的工藝質量比較，同時可考核某些產品抗鹽霧腐蝕的能力；該產品造用于零部件、電子元件、金屬材料的防護層以及工業產品的鹽霧腐蝕試驗,根據試驗需求可以分為：中性鹽霧試驗、酸性鹽霧試驗、銅加速醋酸鹽霧試驗。

自我診斷功能，便于維護
內置自診斷裝置可提示操作人員何時應進行例行維護，或對故障進行檢查。帶有一個個性化的面板控制器，它可使操作人員簡單地對復雜的測試程序進行編程。
易于編制循環程序或直接運行Q-FOG自帶的測試程序?？梢酝瓿稍S多循環腐蝕試驗，如Prohesion試驗、ASTM B117、ASTM G85、BS3900 F4和F9、DIN50.907和ISO9227等試驗。內置以下全部或部分循環程序：
1、 循環A， ASTM B117（NSS）
2、 循環B， Prohesion
3、 循環C，CCT-1
4、 循環D，CCT-IV
5、 循環E，GM9540P/B
6、 循環F，ASTM B368（CASS）