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開封x射線測厚儀,X-ray測厚儀

更新時間:2025-05-03 04:48:56 編號:9ctj82fg18330
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開封x射線測厚儀,X-ray測厚儀

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面向地區
全國
品牌
天瑞

X射線測厚儀原理是根據X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線量,根據該X射線的能量值,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號,經過前置放大器放大,再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。

在厚度一定的情況下,X射線的能量值為常量。當安全快門打開,X射線將從X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過,被測鋼板將一部分能量吸收,剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收,探頭將所接收的X射線轉換為與之大小相關的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度,則所吸收的X射線量也將改變,這將使探頭所接收的X射線量發生變化,檢測信號也隨之發生相應的變化。

X射線測厚儀的高壓發生器與控制器(控制X射線的電流和電壓)分成立的兩個單元。高壓發生器與KV電壓電纜均置于C型架中,通過不帶高壓電的電纜與控制器連接,從而提高設備的安全性和系統的控制精度。

X射線測厚儀冷卻系統包括X光源與檢測器的冷卻,在日常維護的過程中要測厚儀在正常溫度下工作,以防止射線管溫度過高,縮短使用壽命。按周期的對測厚儀進行標定,以測量精度。使用環境保持恒溫,實驗室配備空調。

是一款設計結構緊湊,模塊精密化程度的鍍層測厚儀,采用了下照式腔體設計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度、適用性強的機型。該系列儀器使用于平面、微小樣品涂鍍層檢測被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

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