關鍵詞 |
高壓加速老化試驗箱 |
面向地區 |
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PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
試驗箱采用熒光紫外燈為光源，通過模擬自然陽光中的紫外輻射和冷凝，對材料進行加速耐候性試驗，以獲得材料耐候性的結果。可模擬自然氣候中的紫外、雨淋、高溫、高濕、凝露、黑暗等環境條件，通過重現這些條件，合并成一個循環，并讓它自動執行完成循環次數。ZN-P
老化試驗箱有大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且利用鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。
箱體保溫采用超細玻璃纖維保溫棉，可避免不必要的能量損失。箱體左側配一直50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。換氣的時間和次數可任意設置。
試驗架二層，可以自由調節高度
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