鍍層范圍0.005~50微米元素范圍從硫到鈾分析時間30秒分析誤差3%

X射線測厚儀基于X射線的吸收特性來測量材料厚度。
X射線發射源發出一束強度穩定的X射線，這束X射線穿過待測量厚度的材料。材料對X射線具有吸收作用，并且吸收程度與材料的厚度以及材料自身對X射線的吸收系數相關。在材料另一側，有探測器用于接收穿過材料后的X射線。探測器會將接收到的X射線信號轉化為電信號，該電信號的強度與接收到的X射線強度相對應。



由于X射線初始強度已知，穿過材料后的強度被探測器測量得到，依據X射線在物質中的吸收規律，即穿過物質后的X射線強度與物質厚度、吸收系數等存在特定關系。通過測量X射線穿過材料前后的強度變化，再結合已知的材料對X射線的吸收系數等參數，利用相應的算法進行計算，就可以得出材料的厚度。 這種測量方式具有非接觸、精度高、速度快等優點，能對多種材料的厚度進行準確測量，廣泛應用于金屬、塑料、紙張等眾多行業的生產檢測環節 。

能量色散X熒光光譜儀(全自動微區膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦分析，滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統。