X熒光測(cè)硫儀（X-ray Fluorescence Sulfur Analyzer）是一種用于快速、準(zhǔn)確測(cè)定樣品中硫含量的分析儀器。它基于X射線熒光光譜（XRF）技術(shù)，能夠?qū)腆w、液體或粉末樣品中的硫元素進(jìn)行非破壞性分析。


便攜式X熒光光譜儀的高靈敏度還使其能夠檢測(cè)到微量元素，從而滿足應(yīng)用領(lǐng)域?qū)υ胤治龅男枨蟆４送?，便攜式X熒光光譜儀還具有操作簡(jiǎn)便和實(shí)時(shí)分析的優(yōu)勢(shì)。其用戶友好的界面和簡(jiǎn)單的操作流程使得使用者無(wú)需的培訓(xùn)即可上手操作。

便攜式X熒光光譜分析儀技術(shù)參數(shù)
檢測(cè)范圍：通常為0.001%到硫含量。
精度：相對(duì)誤差通常在±1%以內(nèi)。
樣品要求：固體樣品需均勻平整，液體樣品需穩(wěn)定無(wú)揮發(fā)。
儀器尺寸：臺(tái)式或便攜式，適合不同場(chǎng)景使用。