探測器SDD元素范圍從Na~U

EDX3600H是天瑞儀器推出的一款 X射線熒光光譜儀 (XRF)，為 銅合金*等金屬材料的元素成分分析而設計。它采用的 **能量色散 X 射線熒光 (EDXRF)** 技術，能夠快速、準確地測定銅合金中從 **鈉 (Na)** 到 **鈾 (U)** 的各種元素含量，滿足工業生產、質量控制和科研開發等領域的分析需求。

X射線熒光光譜儀（XRF，X-ray Fluorescence Spectrometer）是一種基于X射線熒光原理的分析儀器，主要用于元素成分的定性和定量分析。其通過X射線管或放射性同位素源產生高能X射線（稱為初級X射線或入射X射線），照射到樣品表面。 當入射X射線的能量樣品中某元素的內層電子（如K層或L層電子）的結合能時，電子會被激發并從原子中逸出，形成空穴。 原子內層電子被激發后，外層電子會躍遷到內層空穴以填補，同時釋放能量。 -這種能量以X射線的形式釋放，稱為熒光X射線（次級X射線）。探測器將X射線光子轉換為電信號，并通過多道分析器（MCA）記錄其能量和強度。 根據熒光X射線的能量，可以確定樣品中存在的元素（定性分析）

天瑞儀器X熒光分析儀的主要特點
非破壞性：樣品在分析過程中不會被破壞。
快速：幾秒到幾分鐘即可完成分析。
多元素分析：可同時檢測多種元素。
廣泛應用：適用于固體、液體、粉末等多種樣品類型。

數據分析與報告
數據驗證：對分析結果進行多次測量，確保數據的重復性和可靠性。
背景扣除：在數據分析時，注意扣除背景干擾，提高結果的準確性。
報告撰寫：在報告中注明樣品信息、測量條件和分析結果，確保數據可追溯。

設備維護與保養
清潔：定期清潔設備的測量窗口和樣品臺，避免灰塵或殘留物影響分析。
檢查部件：定期檢查X射線管、探測器等關鍵部件，確保其正常工作。
軟件更新：定期更新設備軟件，以獲得新的功能和優化。
記錄維護日志：記錄設備的維護和校準情況，便于追蹤設備狀態。

黃銅分析儀EDX3600H材質分析X熒光光譜儀的主要技術參數：
*元素分析范圍： Na (11) - U (92)
探測器： SDD 探測器
X 光管：微型 X 光管
測量時間：通常為 10-60 秒
樣品尺寸： 直徑 ≤ 50 mm, 高度 ≤ 40 mm
重量：約 50 kg