探測器SDD元素范圍從Na~U

EDX3600HX射線熒光光譜儀 (XRF)主要特點：、高穩定性：采用高分辨率 SDD 探測器和 X 光管，確保測量結果的準確性和穩定性。 快速分析：分析速度快，通常只需幾秒鐘即可獲得結果，提高工作效率。無損檢測：無需對樣品進行破壞性處理，即可進行無損檢測，適用于各種形狀和尺寸的樣品。操作簡單,配備用戶友好的軟件界面，操作簡單易學，即使是初學者也能快速上手。

EDX3600H是天瑞儀器推出的一款 X射線熒光光譜儀 (XRF)，為 銅合金*等金屬材料的元素成分分析而設計。它采用的 **能量色散 X 射線熒光 (EDXRF)** 技術，能夠快速、準確地測定銅合金中從 **鈉 (Na)** 到 **鈾 (U)** 的各種元素含量，滿足工業生產、質量控制和科研開發等領域的分析需求。

X射線熒光光譜儀EDX3600H是一種用于元素分析的儀器，使用過程中需要注意以下事項以確保操作安全、數據準確和設備壽命：
安全注意事項
輻射防護：XRF設備會發射X射線，操作時需佩戴輻射防護裝備（如鉛圍裙、鉛眼鏡等），并確保設備周圍有屏蔽措施。
避免直接暴露：不要將手或其他身體部位直接暴露在X射線束下。 -
設備維護：定期檢查設備輻射泄漏情況，確保設備處于安全狀態。

X熒光分析儀主要有兩大類型：
波長色散型XRF（WDXRF）：通過衍射晶體將熒光X射線按波長分開，分辨率高，但儀器結構復雜。
能量色散型XRF（EDXRF）：通過探測器直接測量熒光X射線的能量，結構簡單，適合快速分析。
X射線熒光光譜儀在地質、冶金、環境、考古、材料科學等領域有廣泛應用。

設備操作注意事項
校準：定期使用標準樣品對設備進行校準，確保分析結果的準確性。
參數設置：根據樣品類型和分析需求，選擇合適的電壓、電流和測量時間。
環境條件：保持設備在恒溫、恒濕的環境中運行，避免溫度或濕度變化影響分析結果。
避免過載：不要對高濃度樣品進行長時間測量，以免損壞探測器。

黃銅分析儀EDX3600H材質分析X熒光光譜儀的主要技術參數：
*元素分析范圍： Na (11) - U (92)
探測器： SDD 探測器
X 光管：微型 X 光管
測量時間：通常為 10-60 秒
樣品尺寸： 直徑 ≤ 50 mm, 高度 ≤ 40 mm
重量：約 50 kg